電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 80611 時(shí)序 / 雜訊分析儀
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測(cè)試，測(cè)試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內(nèi)部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測(cè)試方式)
開放性架構(gòu)軟件平臺(tái)
支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器
測(cè)試項(xiàng)目編輯功能
測(cè)試程序編輯功能
統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能
用戶權(quán)力設(shè)定
測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能
人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄
多待測(cè)物測(cè)試能力
支持條形碼機(jī)
電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測(cè)試，測(cè)試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內(nèi)部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測(cè)試方式)
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開放性架構(gòu)軟件平臺(tái)
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支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器
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測(cè)試項(xiàng)目編輯功能
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測(cè)試程序編輯功能
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統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能
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用戶權(quán)力設(shè)定
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測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能
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人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄
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多待測(cè)物測(cè)試能力
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支持條形碼機(jī)
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符合EIAJ RC-2377標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目(C/IR/ESR)
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經(jīng)由系統(tǒng)默認(rèn)測(cè)試項(xiàng)目，可提高測(cè)試生產(chǎn)率
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多頻道同步量測(cè),以減少測(cè)試時(shí)間
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單一直流電源和單一直流電子負(fù)載設(shè)計(jì)
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硬件保護(hù)電路
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*佳成本效益比
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根據(jù)用戶需求可擴(kuò)增硬件
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圖形化接口 Windows®2000/XP 的作業(yè)環(huán)境
Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是電氣二重層電容(EDLC)測(cè)試的*終解決方案。系統(tǒng)包含各種不同范圍的硬件供選擇，系統(tǒng)包含可程序直流電源供應(yīng)器、可編程直流電子負(fù)載、時(shí)序分析儀和LCR表。這套系統(tǒng)是由開放性架構(gòu)的軟件所構(gòu)成的，讓用戶有更多的彈性組合、功能強(qiáng)大與節(jié)省成本的測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而適用于市面上各種不同范圍的電氣二重層電容(EDLC)。
Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)Electrical Double Layer Capacitor Automatic Test System (EDLC ATS)提供獨(dú)特的高效率測(cè)試命令技術(shù)，可以避免相同的控制命令重復(fù)送到系統(tǒng)的硬件裝置，進(jìn)而顯著提升測(cè)試速度，也讓8801對(duì)高速的生產(chǎn)應(yīng)用為***的選擇。
Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含符合EIAJ RC-2377標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目。本系統(tǒng)提供的特殊測(cè)試編輯功能，可以讓用戶也能依據(jù)自己的需要建立新的測(cè)試項(xiàng)目，也使得用戶有能力去無限制的擴(kuò)增測(cè)試數(shù)據(jù)庫。
這套系統(tǒng)的開放性架構(gòu)軟件還包含統(tǒng)計(jì)分析與管理功能。這些功能使系統(tǒng)有能力產(chǎn)生各式不同的測(cè)試文件與執(zhí)行系統(tǒng)的管理。系統(tǒng)所提供的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能是不可缺少的，這對(duì)于現(xiàn)代化工廠的質(zhì)量保證與生產(chǎn)測(cè)試是極端重要，Chroma 8801 EDLC 測(cè)試系統(tǒng)是可工作在 WindowsR2000/XP 以上的作業(yè)環(huán)境，可以提供測(cè)試工程師一個(gè)容易學(xué)習(xí)的窗口環(huán)境與允許使用微軟所提供的系統(tǒng)資源。
本自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)使用獨(dú)一的**測(cè)試命令技術(shù)去避免重復(fù)的控制命令被送至系統(tǒng)硬件裝置，使得系統(tǒng)能夠大量提升測(cè)試速度，以及開放性的軟件架構(gòu)，構(gòu)成高效率與**的 EDLC 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
