無線射頻分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 無線射頻分類機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3240-Q
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
符合成本效益的RF整合方案
客制RF隔離室和整合Tester安裝
可調(diào)整測(cè)試間距至120mm
具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn)
支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm
**的定位能力
支援JEDEC和EIA料盤
無線射頻分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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符合成本效益的RF整合方案
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客制RF隔離室和整合Tester安裝
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可調(diào)整測(cè)試間距至120mm
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具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn)
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支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm
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**的定位能力
3240-Q是一臺(tái)獨(dú)特且**、整合了射頻和無線隔離室之自動(dòng)分類機(jī)。此機(jī)臺(tái)配置多達(dá)八個(gè)測(cè)試站點(diǎn)和獨(dú)立的隔離作平行測(cè)試。3240-Q具有順暢的自動(dòng)化測(cè)試、**的Pick&Place技術(shù)、彈性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢(shì)，適用于射頻和無線芯片測(cè)試。
3240-Q也可依據(jù)測(cè)試需求支持各種不同類型封裝的芯片。具有自動(dòng)送料/分料盤設(shè)計(jì)，3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強(qiáng)溫控的測(cè)試能力，可提供高達(dá)150℃之高溫測(cè)試環(huán)境。
