自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
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產(chǎn)品名稱(chēng): 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3260
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī)
同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì)
具備處理QFP的能力
簡(jiǎn)易編輯通訊定義(ECD)功能
無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題
浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
IC殘留檢測(cè)功能
發(fā)明專(zhuān)利字號(hào)190373, 190377, 1227324 & 125307
Thermal Control Configurations
Tri Temp Control
Close-Loop Active Thermal Control (ATC) Module
Unity PTC (Passive Thermal Control)
Cooling Pipe
自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
Chroma 3260是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC，移動(dòng)到測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤(pán)。
Chroma 3260以并排平行方式，進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有主動(dòng)式溫度控制(Active Thermal Control)功能，其范圍從攝氏50度到125度可測(cè)試1至6個(gè)測(cè)試座。
